芯片老化测试箱

产品介绍

芯片老化测试箱是⼀款专⻔用于模拟芯片在极端环境下工作状态的设备，通过精确控制温度、湿度等环境参数，模拟芯片在实际使用中可能遇到的高温、高湿、高应⼒等极端条件，加速芯片的老化过程，通过这种⽅式，可以在短时间内筛选出早期失效的芯片，优化设计⽅案，提升产品良率，确保芯片在⻓期使用中的稳定性和可靠性。