冠亚恒温
电子元件日益复杂的应用场景中，温度剧烈变化成为影响其可靠性的关键因素。高低温试验通过模拟苛刻温度环境，系统评估元件在低温存储、高温工作及温度循环等条件下的性能稳定性与结构可靠性，准确识别材料劣化、机械失效等潜在问题。
一、高低温试验的核心作用与测试标准体系
电子元件在复杂应用场景中需承受温度剧烈变化，高低温试验通过模拟苛刻温度环境，系统性验证元件性能稳定性与结构可靠性。该试验涵盖低温存储、高温工作、温度循环等测试，可准确识别元件因热胀冷缩、材料老化等因素引发的潜在问题，为元件设计优化与质量管控提供关键数据支撑。
二、电子元件在高低温环境下的典型失效模式
1、材料性能劣化
低温环境中，塑料封装材料会因脆性增加而出现裂纹，金属材料则可能出现冷脆现象。高温环境下，高分子材料加速老化。
2、机械结构失效
连接器是典型的机械电气混合元件，在温度循环试验中，插头与插座的接触件因热膨胀系数差异，可能产生接触压力变化。
三、高低温试验设备的关键选型要素
1、温度控制性能
设备的温度范围需覆盖目标测试条件，对于汽车电子元件，建议选择控温范围宽的设备，以兼容引擎舱等高温区域的应用场景。控温精度直接影响试验数据的准确性，电子元件测试需选用控温精度高的设备。
2、均匀性与波动性
试验箱内的温度均匀性应应控制在合理范围内，以避免元件因位置差异导致测试结果偏差。
3、安全防护与扩展性
设备需配备完善的安全保护装置，如超温警告、过压保护、漏电断路器等。
四、试验流程优化与数据管理
1、预处理与安装规范
元件在试验前需进行24小时常温预处理，清理存储运输过程中的应力影响。安装时应使用热传导性能良好的夹具，确保元件与温度传导介质充分接触，避免因接触热阻导致温度滞后。对于电路板组件，建议采用针床夹具固定，保证每个元件的温度一致性。
2、试验剖面设计
根据元件应用场景制定合理的试验剖面，消费电子元件可采用的循环模式，进行多次循环，温度转换时间应控制在合理时间内，以模拟快速温度变化场景，满足快速转换需求。
3、数据采集与分析
试验过程中需实时采集元件的电气参数与环境数据。设备采用配套的7寸彩色触摸屏系统，同步显示温度曲线与元件参数，并支持Excel数据导出。
高低温试验是电子元件可靠性验证的核心环节，通过标准化的测试流程、准确的设备选型与数据分析，可识别元件潜在问题，提升产品质量。随着新能源汽车等产业的快速发展，电子元件面临更严苛的温度挑战，为电子制造业提供可靠的质量保障。
