闪存高低温测试中芯片测试说明

2019-03-13 15:06:03 无锡冠亚恒温制冷技术有限公司 1

  闪存高低温测试中芯片测试是一个比较复杂的问题,无锡冠亚闪存高低温测试针对芯片进行高低温冷源热源进行测试,还涉及到其他部分,那么,该芯片测试大家都了解多少呢?

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  芯片的闪存高低温测试本身也是一个复杂的问题,也还有不少人和公司在做这方面的研究,这个还涉及到芯片验证-生产之前很关键的阶段。验证加测试会占到整个芯片研发的很大一块比例,可能一半多的成本和时间花在这上面。

  闪存高低温测试的闪存是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash两种,前者用于储存程序代码,后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、GPS、工业电子…等等。为确保闪存可在极端温度环境可正常实现稳健的闪存读/写操作功能,因此在出厂前需要进行温度测试,无锡冠亚高低温循环测试机广泛应用于闪存制造行业。

  闪存高低温测试是无锡冠亚针对芯片测试行业进行生产研发的,因此,选择靠谱设备厂家是很重要。


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